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    測厚儀相關知識介紹
    點擊次數(shù):2526 更新時間:2018-03-16

    一 SFS-EN ISO 2808 介紹

    ISO 2808標準描述了一些測量基材上涂層厚度的方法。方法確定了對以下內(nèi)容的描述:濕膜厚度,干膜厚度,未固化噴塑涂層厚度。

    二 相關術語說明

    相關術語的定義主要參照ISO 4618 :2006,下面對測厚過程中常用的術語加以說明。

    1底材:將要噴涂涂層的表面。

    2膜厚: 底材表面和涂層膜表面之間的距離。

    3濕膜厚度:剛剛噴涂上的濕膜材料的厚度,在噴涂后立刻測量。

    4干膜厚度:當涂層硬化后,表面的涂層的厚度

    5未固化噴塑涂層的厚度:剛噴涂的塑粉的厚度,噴塑后從噴塑烤房出來前測量的塑粉材料的厚度。

    6相關表面區(qū)域:覆蓋的或即將被涂層覆蓋的部件的一部分,即涂層的適用性相對外觀很重要的那部分。

    7試驗區(qū)域:相關表面區(qū)域的代表部分,將在此部分進行協(xié)議次數(shù)的單次測量。

    8測量區(qū)域:進行單次測量的區(qū)域

    9zui小局部膜厚:在特定試驗樣品的相關表面上的局部膜厚的zui低值

    10zui大局部膜厚:在特定試驗樣品的相關表面上的局部膜厚的zui高值

    11平均膜厚:試驗區(qū)域的所有單次干膜厚度的算數(shù)平均值,或膜厚重量分析的測定值。

    12校準: 測量可追溯校準標準的受控核文件程序,驗證結果在測量儀器的陳述的準確性范圍內(nèi)。 初始校準是通過儀器生產(chǎn)商或或通過有資質(zhì)的實驗室控制環(huán)境下使用的文件程序按照文件程序進行的。此初始校準將常常通過用戶在常規(guī)間隔期內(nèi)進行驗證。在校準過程中使用的標準為綜合測量的組合不確定性少于儀器的不準確性。

    13驗證:用戶使用的相關標準進行的準確性檢查。

    14參考標準: 已知厚度的樣品對比用戶的測量值,可驗證測量儀器的準確性。 參考標準可能為涂層厚度標準。如果通過簽訂合同方的協(xié)議,那么試驗樣品的部分可以用來作為特殊工作的膜厚標準。

    15測量儀器的厚度讀數(shù)的矯正操作要符合相關的參考標準:  按照厚度標準和在墊片上調(diào)整絕大多數(shù)的測量儀器,鍍層厚度和墊片已知。

    16準確性:厚度標準的測量數(shù)值和準確數(shù)值之間的一致性。

    三 常見測光厚儀器及測厚原理

    1千分尺

    千分尺應該能夠zui近測量5um。應該安裝一個棘齒,以便限制主軸上的力施加在試驗表面上。帶有平面測量面的千分尺頭被夾在帶有平坦的基板的堅固架子上,架子的高度應可以調(diào)整。測量面應和基板的頂部平行對齊。手持式(參見圖3.1),這種儀器的一般術語名稱為外徑千分尺,盡管它還被稱為千分卡尺(參見ISO3611)。千分尺應符合ISO3611的要求。軸和鐵砧的測量面應為平面,并且互相平行。

    2度盤指示器

       機械度盤式指示器的可用于傳統(tǒng)測厚,目前也有電子度盤式量規(guī),可有模擬信號或數(shù)字信號顯示。度盤復合ISO 3611標準,  度盤式量規(guī)的下面有兩個等長的與可動活塞等距放置的接觸針,三者成一條直線。調(diào)整螺釘用于精密調(diào)整活塞在導向道上的位置。

    3激光光熱法

    膜厚通過向涂層輻射熱波的時間和探測到重新發(fā)射波(熱波或超聲波)的時間差來確定。

    光熱原則基本適用于所有膜基材組合。也可以用于確定多層涂層中的其中一層的厚度,條件是多層涂層中的每一層應可通過它們的熱傳到新和反射性能充分區(qū)分。

    4重量分析方法

    使用重量分析的原則確定整個覆蓋土城區(qū)域的濕膜厚度的平均值。在噴涂圖層時,樣品的反面應覆蓋保護,以免由于在樣塊背面噴上涂層導致測量誤差。在稱重噴涂后樣塊前,應將其備件的保護層去掉。

    噴涂涂層的厚度的計算方式為:用涂層的質(zhì)量除以涂層密度,再除以涂層表面面積。噴涂液態(tài)涂層材料的密度可以按照ISO2811-1,ISO2811-2,ISO2811-3,ISO2811-4來確定。

    5 磁力法

    通過磁場和金屬底材之間的相互作用來確定膜厚。通過磁場變化得出膜厚。磁力法適合于涂層后的金屬底材。對于磁感應計方法,底材必須是鐵磁體,當電磁鐵接近含磁性底材時,它能從磁場產(chǎn)生的變化來確定膜厚。渦流表方法,底材必須是非鐵磁性材料,此電磁鐵通過由導電底材上的渦流造成的磁場變化確定膜厚。

    6 光熱法

    光熱原理基本適用于所有膜與底材的結合。通過熱波射向涂層的時間和發(fā)現(xiàn)被重新發(fā)射的波(熱波或超聲波)的時間不同來確定膜厚。假如涂層之間的導熱系數(shù)和反射特性能夠明顯區(qū)分,也可以用此原理來確定多層涂層中的單層膜厚。不管涉及何種激發(fā)方式或檢測方法,所有的光熱法都用相同的原理:把以熱為形式的能量周期性的或脈沖導入樣品,隨后發(fā)現(xiàn)局部溫度升高。把所測量的時間差同在固定條件下(激發(fā)能,脈波長,激發(fā)頻率,等)通過儀器得出的膜厚值進行比較。

    四 我司銷售測厚儀說明

    北京時代新天測控技術有限公司主要生產(chǎn)各類檢定儀表。 我司生產(chǎn)的測厚儀采用磁感應和電渦流原理。測量方法符合標準ISO2361,ISO 2178和國家標準GB4956、GB4957。它采用計算機技術,無損檢測技術等多項先進技術,無需損傷被測體就能準確地測量出它的厚度。我司所生產(chǎn)的測厚儀TT220之F型探頭可測量導磁材料(如鐵/鎳)表面上的非導磁覆蓋層厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等)。可應用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量,也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。 TT230之N型探頭可測量非導磁金屬基體上的絕緣覆蓋層厚度,如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠涂層,也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導套式探頭,能夠保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣值,在堅硬或粗糙的表面上能夠準確測量測量。我司產(chǎn)測厚儀可實現(xiàn)與PC機通訊,從而兒實現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集,處理,分析和報表打印,大大滿足使用單位管理需求。我司產(chǎn)測厚儀還設有自動關機、自動識別被測基體、自動記憶校準值等功能,方便用戶使用。

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